LLC串联谐振式开关电源MOSFET故障诊断研究
Electrical Measurement & Instrumentation（2020）
摘要
针对在LLC串联谐振式开关电源中起关键作用但故障率高的MOSFET,基于Cadence/OrCAD PSpice软件环境,分析MOSFET的故障失效模式及其在电路中造成的影响,以电路功能模块之间的关键输入/输出为故障特征提取点,建立故障特征集,并分别采用基于K-CV优化的支持向量机算法和基于GA优化的BP神经网络算法.诊断结果表明,所选择的测点数据基本保留电路中MOSFET的故障特征,两种算法均具备较高的诊断准确率.文中提出的诊断策略具有实际可操作性强、运算简洁的特点.
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